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圖書(shū)簡(jiǎn)介

品牌：圖書(shū)

詳情

商品基本信息，請(qǐng)以下列介紹為準(zhǔn)
商品名稱：	光電探測(cè)與信號(hào)處理
作者：	安毓英
市場(chǎng)價(jià)：	32元
文軒網(wǎng)價(jià)：	25.6元【80折】
ISBN號(hào)：	9787030272621
出版社：	科學(xué)出版社
商品類型：	圖書(shū)

其他參考信息（以實(shí)物為準(zhǔn)）
裝幀：	開(kāi)本：	語(yǔ)種：
出版時(shí)間：2010-05-01	版次：	頁(yè)數(shù)：
印刷時(shí)間：2010-07-01	印次：	字?jǐn)?shù)：
溫馨提示：出版時(shí)間超過(guò)3年的圖書(shū)，因長(zhǎng)時(shí)間儲(chǔ)存可能會(huì)產(chǎn)生紙張缺陷，敬請(qǐng)諒解！

主編推薦

《光電探測(cè)與信號(hào)處理》特點(diǎn)：強(qiáng)調(diào)電子信息系統(tǒng)中電信號(hào)解調(diào)和光電子信息系統(tǒng)中光信號(hào)解調(diào)的區(qū)別，前者是幅度響應(yīng)，后者是功率響應(yīng)。緊密結(jié)合光電探測(cè)器的性能來(lái)分析光電子信息系統(tǒng)的性能，注重培養(yǎng)選擇與使用探測(cè)器的能力�！碽r〉以光電子信息系統(tǒng)中的信噪比為最重要指標(biāo)，分析直接探測(cè)系統(tǒng)和外差探測(cè)系統(tǒng)的性能特點(diǎn)。〈br〉以最佳接收機(jī)和理想接收機(jī)的概念來(lái)總結(jié)前四章的內(nèi)容，幫助讀者建立完整的光電子信息系統(tǒng)的概念�！碽r〉清晰明了的物理概念與循序漸進(jìn)的內(nèi)容安排，有助于教師組織教學(xué)和學(xué)生自學(xué)。

內(nèi)容簡(jiǎn)介

《光電探測(cè)與信號(hào)處理》內(nèi)容簡(jiǎn)介：在光電子信息系統(tǒng)中，光電探測(cè)器對(duì)光信號(hào)的解調(diào)過(guò)程是功率響應(yīng)�！豆怆娞綔y(cè)與信號(hào)處理》從這一特點(diǎn)出發(fā)，結(jié)合探測(cè)器性能和信噪比的概念，系統(tǒng)地介紹了光電探測(cè)系統(tǒng)和信息處理的基本內(nèi)容和基本技術(shù)。第1章介紹光電探測(cè)基礎(chǔ)，為后面章節(jié)提供必需的基礎(chǔ)知識(shí)；第2章介紹光子、光熱兩大類點(diǎn)探測(cè)器的工作原理與負(fù)載電路的設(shè)計(jì)方法；第3章介紹直接探測(cè)和外差探測(cè)兩種體制的系統(tǒng)性能及最佳信號(hào)處理方法；第4章介紹光電成像的特點(diǎn)和CCD等像探測(cè)器的功能；第5章介紹光接收機(jī)信號(hào)檢測(cè)理論，包括最佳接收機(jī)和理想接收機(jī)的概念。     《光電探測(cè)與信號(hào)處理》可作為電子科學(xué)與技術(shù)、光信息科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)“光電檢測(cè)技術(shù)”課程的本科生教材，也可供應(yīng)用物理、通信工程、電子工程等相關(guān)專業(yè)的研究生和科技人員使用。

目錄

叢書(shū)序 前言 第1章光電探測(cè)基礎(chǔ) 1.1光電系統(tǒng)描述 1.1.1光電系統(tǒng)的基本模型 1.1.2光源發(fā)射增益 1.1.3接收光功率 1.2光接收機(jī)視場(chǎng) 1.2.1透鏡變換 1.2.2探測(cè)功率和視場(chǎng) 1.3光電探測(cè)器的物理效應(yīng) 1.3.1光子效應(yīng)和光熱效應(yīng) 1.3.2光電發(fā)射效應(yīng) 1.3.3光電導(dǎo)效應(yīng) 1.3.4光伏效應(yīng) 1.3.5溫差電效應(yīng) 1.3.6熱釋電效應(yīng) 1.4光電轉(zhuǎn)換定律和光電子計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì) 1.4.1光電轉(zhuǎn)換定律 1.4.2光電子計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì) 1.5光電探測(cè)器性能參數(shù) 1.6光電探測(cè)器的噪聲 1.6.1噪聲的概念 1.6.2噪聲的描述 1.6.3光電探測(cè)器的噪聲源 1.7輻度學(xué)與光度學(xué) 1.7.1輻射量 1.7.2光度量 1.8背景輻射 1.9探測(cè)器主要性能參數(shù)測(cè)試 1.9.1探測(cè)器光譜響應(yīng)率函數(shù)的測(cè)試方法 1.9.2光譜響應(yīng)率函數(shù)的測(cè)試 習(xí)題與思考題1 第2章點(diǎn)探測(cè)器 2.1光電管 2.1.1光陰極材料及其光譜響應(yīng) 2.1.2光電特性和伏安特性 2.1.3頻率特性及其他特性 2.1.4強(qiáng)流管 2.2光電倍增管 2.2.1倍增極的特性 2.2.2工作電壓 2.2.3光電特性和伏安特性 2.2.4噪聲特性 2.2.5微通道板光電倍增管 2.3光電導(dǎo)探測(cè)器 2.3.1光電轉(zhuǎn)換原理 2.3.2工作特性 2.3.3幾種典型的光敏電阻及派生器件 2.3.4使用注意事項(xiàng) 2.3.5光電導(dǎo)探測(cè)器的偏置方式 2.4PN結(jié)光伏探測(cè)器的工作模式 2.4.1光電轉(zhuǎn)換原理 2.4.2光伏探測(cè)器的工作模式 2.5光電池 2.5.1短路電流和開(kāi)路電壓 2.5.2輸出功率和最佳負(fù)載電阻 2.5.3光譜、頻率響應(yīng)及溫度特性 2.5.4慢變化光信號(hào)探測(cè) 2.5.5脈動(dòng)光信號(hào)探測(cè) 2.6光電二極管 2.6.1Si光電二極管 2.6.2PIN硅光電二極管 2.6.3雪崩光電二極管 2.6.4紫外光電二極管 2.6.5半導(dǎo)體色敏器件 2.6.6光電三極管 2.6.7HgCdTe光電二極管 2.6.8光子牽引探測(cè)器 2.7光電象限探測(cè)器和位敏探測(cè)器 2.7.1象限探測(cè)器 2.7.2光電位敏傳感器(PSD) 2.8光熱探測(cè)器 2.8.1光熱探測(cè)器的熱過(guò)程分析 2.8.2熱敏電阻 2.8.3熱釋電探測(cè)器 習(xí)題與思考題2 第3章直接探測(cè)和外差探測(cè) 3.1直接探測(cè)系統(tǒng)的性能分析 3.1.1包絡(luò)探測(cè) 3.1.2信噪比特性 3.1.3等效噪聲功率特性 3.2提高輸入信噪比的光學(xué)方法 3.2.1濾波法 3.2.2場(chǎng)鏡法 3.3前置放大器的噪聲匹配 3.3.1前放噪聲等效電路 3.3.2噪聲系數(shù) 3.3.3匹配方法 3.4閾值探測(cè)的光電探測(cè)統(tǒng)計(jì) 3.5相關(guān)檢測(cè) 3.5.1相關(guān)原理 3.5.2鎖定放大器 3.5.3信噪比改善 3.6維納濾波器 3.7匹配濾波器 3.8BOXCAR 3.8.1取樣積分器的工作原理 3.8.2取樣積分器的主要參數(shù) 3.9光子計(jì)數(shù) 3.9.1光子計(jì)數(shù)的原理 3.9.2光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)的測(cè)量誤差 3.10光頻外差探測(cè)的基本原理 3.10.1光頻外差光路結(jié)構(gòu) 3.10.2雙光束干涉 3.10.3外差信號(hào)的特點(diǎn) 3.11光頻外差探測(cè)的信噪比分析 3.11.1不計(jì)本振噪聲 3.11.2計(jì)入本振噪聲 3.11.3光電探測(cè)器的外差探測(cè)極限靈敏度 3.12光頻外差探測(cè)的空間相位條件 3.12.1兩光束不平行 3.12.2兩光束平行但不垂直光敏面 3.13光頻外差探測(cè)系統(tǒng) 3.13.1降低空間相干條件——艾里斑原理法 3.13.2自適應(yīng)光外差技術(shù) 習(xí)題與思考題3 第4章像探測(cè)器 4.1光電成像概論 4.2真空攝像管 4.2.1真空攝像管結(jié)構(gòu) 4.2.2攝像原理 4.2.3其他真空攝像管 4.3自掃描光電二極管陣列 4.3.1SSPD線陣列 4.3.2SSPD面陣列 4.4CCD攝像器件 4.4.1CCD結(jié)構(gòu)和存儲(chǔ)電荷原理 4.4.2電荷轉(zhuǎn)移工作原理與電極結(jié)構(gòu) 4.4.3電荷注入和讀出 4.4.4CCD圖像傳感器 4.5電荷注入器件CID 4.6CMOS圖像傳感器 4.6.1CMOS圖像傳感器的成像原理及結(jié)構(gòu) 4.6.2CMOS圖像傳感器的優(yōu)勢(shì) …… 第5章光接收機(jī)信號(hào)檢測(cè)理論概述 參考文獻(xiàn)

目錄

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