光電信息綜合實驗與設(shè)計教程/光電信息科學(xué)與工程專業(yè)/電子信息與 王慶有 ..
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電子通信培..
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圖書簡介
品牌：圖書詳情 商品基本信息，請以下列介紹為準(zhǔn) 商品名稱： 光電信息綜合實驗與設(shè)計教程/光電信息科學(xué)與工程專業(yè)/電子信息與 作者： 王慶有 市場價： 39.9元 文軒網(wǎng)價： 31.9元【80折】 ISBN號： 9787121121906 出版社： 電子工業(yè)出版社 商品類型： 圖書
其他參考信息（以實物為準(zhǔn)） 裝幀：平裝 開本：16開 語種： 出版時間：2010-12-01 版次：1 頁數(shù)：348 印刷時間：2010-12-01 印次：1 字?jǐn)?shù)：613.00千字 溫馨提示：出版時間超過3年的圖書，因長時間儲存可能會產(chǎn)生紙張缺陷，敬請諒解！
主編推薦 《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》集國內(nèi)十余所光電信息領(lǐng)域高校教師之智慧，以及光電領(lǐng)域高新技術(shù)企業(yè)之成果，由光電技術(shù)、CCD應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域著名專家王慶有教授主編，以“光電綜合實驗方法”發(fā)明專利為根基，綜合光電信息方向各門類實驗內(nèi)容，創(chuàng)造性地設(shè)置多方位引導(dǎo)性實驗。介紹典型課程設(shè)計。畢業(yè)設(shè)計與創(chuàng)新設(shè)計課題，為讀者提供進(jìn)入課題、著手設(shè)計與完成光電信息工程設(shè)計的指導(dǎo)。
內(nèi)容簡介 《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》包括光電信息綜合實驗與綜合設(shè)計兩篇。第一篇為基礎(chǔ)理論與技術(shù)方面的綜合實驗，包括：光電傳感器原理與變換電路實驗，線陣CCD傳感器原理與應(yīng)用實驗，面陣CCD圖像傳感器與數(shù)字圖像處理技術(shù)實驗，應(yīng)用光學(xué)與光學(xué)系統(tǒng)實驗，光的衍射與干涉實驗，光電檢測技術(shù)實驗，光纖通信與光纖傳感實驗，激光原理與應(yīng)用實驗。這部分內(nèi)容既可用于實驗教學(xué)，也可作為實訓(xùn)內(nèi)容。第二篇為綜合性、開發(fā)性方面的設(shè)計實例，包括光電信息轉(zhuǎn)換方面的實驗開發(fā)與設(shè)計，光電信息技術(shù)方向課程設(shè)計，畢業(yè)設(shè)計課題，綜合性與創(chuàng)新性設(shè)計等方面的課題。
《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》可作為高等學(xué)校光信息科學(xué)與技術(shù)、光電信息工程、機(jī)械電子工程、測控技術(shù)與儀器等專業(yè)本科及研究生的輔助教材，也可作為光電技術(shù)領(lǐng)域科技人員的參考書。
目錄 第一篇 基礎(chǔ)理論與技術(shù)實驗
第0章 光電信息實驗的預(yù)備知識
O.1 光電信息方向的實驗室
O.2 光電綜合實驗平臺簡介
O.3 光電信息實驗基本規(guī)則
第1章 光電傳感器原理與變換電路實驗
1.1 光源與光度輻射度參數(shù)的測量實驗
1.2 光敏電阻特性參數(shù)及其測量實驗
1.3 光敏電阻的變換電路實驗
1.4 光電二極管特性參數(shù)及其測量實驗
1.5 光電池的偏置與基本特性實驗
1.6 光電三極管特性參數(shù)及其測量實驗
1.7 光電倍增管電流倍增特性與特性參數(shù)測試實驗
1.8 光電耦合器特性參數(shù)測量實驗
1.9 熱敏器件與熱釋電探測器實驗
1.1 0PSD實驗
1.1 1LED角度特性參數(shù)測量實驗
1.1 2LED光譜特性的測量與光柵光譜儀實驗
第2章 線陣COD傳感器原理與應(yīng)用實驗
2.I線陣CCD原理與驅(qū)動特性實驗
2.2 線陣CCD輸出特性測量實驗
2.3 利用線陣CCD進(jìn)行物體外形尺寸測量實驗
2.4 線陣CCD的A／D數(shù)據(jù)采集實驗
2.5 用軟件提取邊緣信號的二值化實驗
2.6 用線陣CCD測量物體的傾斜角度實驗
2.7 條碼的測量與識別實驗
2.8 用線陣CCD測量物體的振動實驗
2.9 利用線陣CCD對運動物體進(jìn)行圖像掃描實驗
第3章 面陣CCD圖像傳感器實驗
3.1 面陣CCD原理及驅(qū)動實驗
3.2 面陣CCD的數(shù)據(jù)采集與計算機(jī)接口實驗
3.3 面陣CCD尺寸測量實驗
3.4 面陣CCD顏色識別實驗
3.5 圖像的點運算實驗
3.6 圖像的幾何變換處理實驗
3.7 圖像增強實驗
3.8 圖像邊緣檢測與輪廓信息處理實驗
3.9 典型圖像分析方法實驗
3.10 微光像增強器原理與應(yīng)用實驗
第4章 應(yīng)用光學(xué)與光學(xué)系統(tǒng)實驗
4.1 光學(xué)實驗必備知識
4.2 組裝遠(yuǎn)心照明光源與測量薄凸透鏡的焦距實驗
4.3 位移法測量薄凸透鏡焦距實驗
4.4 組裝顯微鏡系統(tǒng)實驗
4.5 組裝透射式幻燈機(jī)實驗
4.6 透鏡組節(jié)點、焦距測量實驗
4.7 保羅棱鏡及其轉(zhuǎn)向功能實驗
4.8 光的偏振現(xiàn)象與偏振光應(yīng)用實驗
4.9 透鏡的傅里葉性質(zhì)及常用函數(shù)與圖形的光學(xué)頻譜分析實驗
4.10 4f光學(xué)系統(tǒng)FT及IFT系統(tǒng)實驗
第5章 光的衍射與干涉實驗
5.1 夫瑯禾費衍射實驗
5.2 夫瑯禾費單縫衍射實驗
5.3 夫瑯禾費圓孔衍射實驗
5.4 雙縫干涉實驗
5.5 利用夫瑯禾費衍射測量細(xì)絲直徑實驗
5.6 利用衍射測量物體位置與振動實驗
5.7 菲涅耳直邊衍射實驗
5.8 菲涅耳圓孔衍射實驗
5.9 全場衍射測量微小變形量實驗
5.10 干涉現(xiàn)象與邁克耳孫干涉儀的構(gòu)建實驗
5.11 利用邁克耳孫干涉系統(tǒng)測量微位移實驗
第6章 光電檢測技術(shù)實驗
6.1 納米量級微弱振動的監(jiān)測實驗
6.2 材料拉伸變形量的測量實驗
6.3 物體顏色的測量與識別實驗
6.4 物體二維空間位置測量實驗
6.5 光柵與莫爾條紋原理實驗
6.6 光電信息調(diào)制與解調(diào)實驗
第7章 光纖通信與光纖傳感實驗
7.1 光纖、光纜的分類與識別實驗
7.2 光纖傳輸信號原理與損耗測試實驗
7.3 多模光纖數(shù)值孔徑測試實驗
7.4 光纖的接續(xù)（含熔接）與擴(kuò)展實驗
7.5 光纖連接器結(jié)構(gòu)、型號識別與應(yīng)用實驗
7.6 波分復(fù)用（wDM）原理與合、分波實驗
7.7 WDM器件的串?dāng)_與損耗測試實驗
7.8 光纖傳感原理實驗
7.9 光纖溫度傳感器原理與應(yīng)用實驗
7.10 光纖壓力傳感器原理與應(yīng)用實驗
7.11 光纖光開關(guān)特性與應(yīng)用實驗
7.12 光纖通信原理與應(yīng)用實驗
7.13 光發(fā)射機(jī)消光比的測量實驗
7.14 音頻模擬信號傳輸實驗
第8章 激光原理與應(yīng)用實驗
8.1 半導(dǎo)體激光二極管（LD）原理的認(rèn)識性實驗
8.2 激光器（含LD）的輸出特性測量實驗
8.3 LD伏安特性測量實驗
8.4 LD光源發(fā)光窄間特性與發(fā)光半角寬度的測量實驗
8.5 LD發(fā)光光譜特性的測量實驗
8.6 激光電光調(diào)O實驗
8.7 激光器晶體角度匹配倍頻實驗
8.8 YAG脈沖激光器的裝調(diào)和最佳耦合角選取實驗
8.9 He.Ne多譜線激光器測試實驗
第二篇 綜合性、開發(fā)性設(shè)計
第9章 光電信息轉(zhuǎn)換技術(shù)實驗開發(fā)與設(shè)計
9.1 激光掃描法測量物體外徑實驗
9.2 像偏移法測量位移實驗
9.3 激光多普勒測速儀實驗
9.4 干涉法測量表面.甲整度實驗
9.5 電光調(diào)制實驗
9.6 聲光調(diào)制器實驗
第10章 光電信息課程設(shè)計
10.1 光功率測量方法與光功率計的設(shè)計
10.2 照度測量方法與照度計的設(shè)計
10.3 發(fā)光強度測量儀的設(shè)計
10.4 亮度測量方法與亮度計的設(shè)計
第11章 光電信息技術(shù)方向畢業(yè)設(shè)計課題
11.1 光電遙控多功能開關(guān)的設(shè)計
11.2 沿路標(biāo)自動行駛車輛的方向與速度的控制設(shè)計
11.3 太陽轉(zhuǎn)動保持最高接收效率的跟隨系統(tǒng)
11.4 高速飛行體飛行姿態(tài)采集與分析的研究
11.5 旋轉(zhuǎn)物體內(nèi)孔表面質(zhì)量的檢測與分析
11.6 浮泫玻璃板在線檢測玻璃表面的“貼錫”缺陷
11.7 透明薄膜厚度的測量
11.8 利用干涉技術(shù)測量光學(xué)膜層的厚度
第12章 綜合性與創(chuàng)新性設(shè)計課題
12.1 瓷磚外形尺寸的測量
12.2 利用面陣CCD拼接技術(shù)測量大尺寸軸徑
12.3 物體表面質(zhì)量測量技術(shù)研究（面陣CCD）
12.4 物體邊界檢測儀的設(shè)計
12.4.1 技術(shù)要求
12.4.2 物體邊界位置檢測方法
12.4.3 物體邊界位置檢測系統(tǒng)的設(shè)計原則
12.5 大米自動分選機(jī)色選系統(tǒng)設(shè)計
12.5.1 色選系統(tǒng)與大米自動分選機(jī)的技術(shù)要求
12.5.2 色選系統(tǒng)的線陣CCD圖像傳感器
12.5.3 大米自動分選機(jī)色選系統(tǒng)的設(shè)計原則
12.6 成像系統(tǒng)像質(zhì)評價和光學(xué)傳遞函數(shù)的測量
12.6.1 光學(xué)成像系統(tǒng)像質(zhì)評價
12.6.2 光學(xué)全息技術(shù)主要功能及其應(yīng)用
12.6.3 光學(xué)傳遞函數(shù)的測量方法
12.7 光柵尺的設(shè)計
12.7.1 基本概念和技術(shù)要求
12.7.2 光柵莫爾條紋與線陣CCD
12.7.3 光柵尺的設(shè)計原則
附錄A 光電綜合實驗平臺軟件資料
附錄B TCD2252D手冊
附錄C TCD1251UD線陣CCD
附錄D 線陣CCD應(yīng)用開發(fā)實驗儀（LCCDAD-Ⅱ）編程手冊
附錄E 圖像采集軟件編程指導(dǎo)
目錄
品牌：圖書
| 商品基本信息，請以下列介紹為準(zhǔn) | |
| 商品名稱： | 光電信息綜合實驗與設(shè)計教程/光電信息科學(xué)與工程專業(yè)/電子信息與 |
| 作者： | 王慶有 |
| 市場價： | 39.9元 |
| 文軒網(wǎng)價： | 31.9元【80折】 |
| ISBN號： | 9787121121906 |
| 出版社： | 電子工業(yè)出版社 |
| 商品類型： | 圖書 |
| 其他參考信息（以實物為準(zhǔn)） | ||
| 裝幀：平裝 | 開本：16開 | 語種： |
| 出版時間：2010-12-01 | 版次：1 | 頁數(shù)：348 |
| 印刷時間：2010-12-01 | 印次：1 | 字?jǐn)?shù)：613.00千字 |
| 溫馨提示：出版時間超過3年的圖書，因長時間儲存可能會產(chǎn)生紙張缺陷，敬請諒解！ | ||
| 主編推薦 | |
| 《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》集國內(nèi)十余所光電信息領(lǐng)域高校教師之智慧，以及光電領(lǐng)域高新技術(shù)企業(yè)之成果，由光電技術(shù)、CCD應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域著名專家王慶有教授主編，以“光電綜合實驗方法”發(fā)明專利為根基，綜合光電信息方向各門類實驗內(nèi)容，創(chuàng)造性地設(shè)置多方位引導(dǎo)性實驗。介紹典型課程設(shè)計。畢業(yè)設(shè)計與創(chuàng)新設(shè)計課題，為讀者提供進(jìn)入課題、著手設(shè)計與完成光電信息工程設(shè)計的指導(dǎo)。 |
| 內(nèi)容簡介 | |
| 《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》包括光電信息綜合實驗與綜合設(shè)計兩篇。第一篇為基礎(chǔ)理論與技術(shù)方面的綜合實驗，包括：光電傳感器原理與變換電路實驗，線陣CCD傳感器原理與應(yīng)用實驗，面陣CCD圖像傳感器與數(shù)字圖像處理技術(shù)實驗，應(yīng)用光學(xué)與光學(xué)系統(tǒng)實驗，光的衍射與干涉實驗，光電檢測技術(shù)實驗，光纖通信與光纖傳感實驗，激光原理與應(yīng)用實驗。這部分內(nèi)容既可用于實驗教學(xué)，也可作為實訓(xùn)內(nèi)容。第二篇為綜合性、開發(fā)性方面的設(shè)計實例，包括光電信息轉(zhuǎn)換方面的實驗開發(fā)與設(shè)計，光電信息技術(shù)方向課程設(shè)計，畢業(yè)設(shè)計課題，綜合性與創(chuàng)新性設(shè)計等方面的課題。 《光電信息綜合實驗與設(shè)計教程》可作為高等學(xué)校光信息科學(xué)與技術(shù)、光電信息工程、機(jī)械電子工程、測控技術(shù)與儀器等專業(yè)本科及研究生的輔助教材，也可作為光電技術(shù)領(lǐng)域科技人員的參考書。 |
| 目錄 | |
| 第一篇 基礎(chǔ)理論與技術(shù)實驗 第0章 光電信息實驗的預(yù)備知識 O.1 光電信息方向的實驗室 O.2 光電綜合實驗平臺簡介 O.3 光電信息實驗基本規(guī)則 第1章 光電傳感器原理與變換電路實驗 1.1 光源與光度輻射度參數(shù)的測量實驗 1.2 光敏電阻特性參數(shù)及其測量實驗 1.3 光敏電阻的變換電路實驗 1.4 光電二極管特性參數(shù)及其測量實驗 1.5 光電池的偏置與基本特性實驗 1.6 光電三極管特性參數(shù)及其測量實驗 1.7 光電倍增管電流倍增特性與特性參數(shù)測試實驗 1.8 光電耦合器特性參數(shù)測量實驗 1.9 熱敏器件與熱釋電探測器實驗 1.1 0PSD實驗 1.1 1LED角度特性參數(shù)測量實驗 1.1 2LED光譜特性的測量與光柵光譜儀實驗 第2章 線陣COD傳感器原理與應(yīng)用實驗 2.I線陣CCD原理與驅(qū)動特性實驗 2.2 線陣CCD輸出特性測量實驗 2.3 利用線陣CCD進(jìn)行物體外形尺寸測量實驗 2.4 線陣CCD的A／D數(shù)據(jù)采集實驗 2.5 用軟件提取邊緣信號的二值化實驗 2.6 用線陣CCD測量物體的傾斜角度實驗 2.7 條碼的測量與識別實驗 2.8 用線陣CCD測量物體的振動實驗 2.9 利用線陣CCD對運動物體進(jìn)行圖像掃描實驗 第3章 面陣CCD圖像傳感器實驗 3.1 面陣CCD原理及驅(qū)動實驗 3.2 面陣CCD的數(shù)據(jù)采集與計算機(jī)接口實驗 3.3 面陣CCD尺寸測量實驗 3.4 面陣CCD顏色識別實驗 3.5 圖像的點運算實驗 3.6 圖像的幾何變換處理實驗 3.7 圖像增強實驗 3.8 圖像邊緣檢測與輪廓信息處理實驗 3.9 典型圖像分析方法實驗 3.10 微光像增強器原理與應(yīng)用實驗 第4章 應(yīng)用光學(xué)與光學(xué)系統(tǒng)實驗 4.1 光學(xué)實驗必備知識 4.2 組裝遠(yuǎn)心照明光源與測量薄凸透鏡的焦距實驗 4.3 位移法測量薄凸透鏡焦距實驗 4.4 組裝顯微鏡系統(tǒng)實驗 4.5 組裝透射式幻燈機(jī)實驗 4.6 透鏡組節(jié)點、焦距測量實驗 4.7 保羅棱鏡及其轉(zhuǎn)向功能實驗 4.8 光的偏振現(xiàn)象與偏振光應(yīng)用實驗 4.9 透鏡的傅里葉性質(zhì)及常用函數(shù)與圖形的光學(xué)頻譜分析實驗 4.10 4f光學(xué)系統(tǒng)FT及IFT系統(tǒng)實驗 第5章 光的衍射與干涉實驗 5.1 夫瑯禾費衍射實驗 5.2 夫瑯禾費單縫衍射實驗 5.3 夫瑯禾費圓孔衍射實驗 5.4 雙縫干涉實驗 5.5 利用夫瑯禾費衍射測量細(xì)絲直徑實驗 5.6 利用衍射測量物體位置與振動實驗 5.7 菲涅耳直邊衍射實驗 5.8 菲涅耳圓孔衍射實驗 5.9 全場衍射測量微小變形量實驗 5.10 干涉現(xiàn)象與邁克耳孫干涉儀的構(gòu)建實驗 5.11 利用邁克耳孫干涉系統(tǒng)測量微位移實驗 第6章 光電檢測技術(shù)實驗 6.1 納米量級微弱振動的監(jiān)測實驗 6.2 材料拉伸變形量的測量實驗 6.3 物體顏色的測量與識別實驗 6.4 物體二維空間位置測量實驗 6.5 光柵與莫爾條紋原理實驗 6.6 光電信息調(diào)制與解調(diào)實驗 第7章 光纖通信與光纖傳感實驗 7.1 光纖、光纜的分類與識別實驗 7.2 光纖傳輸信號原理與損耗測試實驗 7.3 多模光纖數(shù)值孔徑測試實驗 7.4 光纖的接續(xù)（含熔接）與擴(kuò)展實驗 7.5 光纖連接器結(jié)構(gòu)、型號識別與應(yīng)用實驗 7.6 波分復(fù)用（wDM）原理與合、分波實驗 7.7 WDM器件的串?dāng)_與損耗測試實驗 7.8 光纖傳感原理實驗 7.9 光纖溫度傳感器原理與應(yīng)用實驗 7.10 光纖壓力傳感器原理與應(yīng)用實驗 7.11 光纖光開關(guān)特性與應(yīng)用實驗 7.12 光纖通信原理與應(yīng)用實驗 7.13 光發(fā)射機(jī)消光比的測量實驗 7.14 音頻模擬信號傳輸實驗 第8章 激光原理與應(yīng)用實驗 8.1 半導(dǎo)體激光二極管（LD）原理的認(rèn)識性實驗 8.2 激光器（含LD）的輸出特性測量實驗 8.3 LD伏安特性測量實驗 8.4 LD光源發(fā)光窄間特性與發(fā)光半角寬度的測量實驗 8.5 LD發(fā)光光譜特性的測量實驗 8.6 激光電光調(diào)O實驗 8.7 激光器晶體角度匹配倍頻實驗 8.8 YAG脈沖激光器的裝調(diào)和最佳耦合角選取實驗 8.9 He.Ne多譜線激光器測試實驗 第二篇 綜合性、開發(fā)性設(shè)計 第9章 光電信息轉(zhuǎn)換技術(shù)實驗開發(fā)與設(shè)計 9.1 激光掃描法測量物體外徑實驗 9.2 像偏移法測量位移實驗 9.3 激光多普勒測速儀實驗 9.4 干涉法測量表面.甲整度實驗 9.5 電光調(diào)制實驗 9.6 聲光調(diào)制器實驗 第10章 光電信息課程設(shè)計 10.1 光功率測量方法與光功率計的設(shè)計 10.2 照度測量方法與照度計的設(shè)計 10.3 發(fā)光強度測量儀的設(shè)計 10.4 亮度測量方法與亮度計的設(shè)計 第11章 光電信息技術(shù)方向畢業(yè)設(shè)計課題 11.1 光電遙控多功能開關(guān)的設(shè)計 11.2 沿路標(biāo)自動行駛車輛的方向與速度的控制設(shè)計 11.3 太陽轉(zhuǎn)動保持最高接收效率的跟隨系統(tǒng) 11.4 高速飛行體飛行姿態(tài)采集與分析的研究 11.5 旋轉(zhuǎn)物體內(nèi)孔表面質(zhì)量的檢測與分析 11.6 浮泫玻璃板在線檢測玻璃表面的“貼錫”缺陷 11.7 透明薄膜厚度的測量 11.8 利用干涉技術(shù)測量光學(xué)膜層的厚度 第12章 綜合性與創(chuàng)新性設(shè)計課題 12.1 瓷磚外形尺寸的測量 12.2 利用面陣CCD拼接技術(shù)測量大尺寸軸徑 12.3 物體表面質(zhì)量測量技術(shù)研究（面陣CCD） 12.4 物體邊界檢測儀的設(shè)計 12.4.1 技術(shù)要求 12.4.2 物體邊界位置檢測方法 12.4.3 物體邊界位置檢測系統(tǒng)的設(shè)計原則 12.5 大米自動分選機(jī)色選系統(tǒng)設(shè)計 12.5.1 色選系統(tǒng)與大米自動分選機(jī)的技術(shù)要求 12.5.2 色選系統(tǒng)的線陣CCD圖像傳感器 12.5.3 大米自動分選機(jī)色選系統(tǒng)的設(shè)計原則 12.6 成像系統(tǒng)像質(zhì)評價和光學(xué)傳遞函數(shù)的測量 12.6.1 光學(xué)成像系統(tǒng)像質(zhì)評價 12.6.2 光學(xué)全息技術(shù)主要功能及其應(yīng)用 12.6.3 光學(xué)傳遞函數(shù)的測量方法 12.7 光柵尺的設(shè)計 12.7.1 基本概念和技術(shù)要求 12.7.2 光柵莫爾條紋與線陣CCD 12.7.3 光柵尺的設(shè)計原則 附錄A 光電綜合實驗平臺軟件資料 附錄B TCD2252D手冊 附錄C TCD1251UD線陣CCD 附錄D 線陣CCD應(yīng)用開發(fā)實驗儀（LCCDAD-Ⅱ）編程手冊 附錄E 圖像采集軟件編程指導(dǎo) |
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