數(shù)學(xué)四年級下（新課標(biāo)）：上海達(dá)標(biāo)卷
- 所屬分類：
- 作者：
《上海達(dá)標(biāo)卷》編寫組 編
- 出版社：
上海科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)出版社
- ISBN：9787543941250
- 出版日期：2010-1-1
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原價(jià)：
￥16.00元
現(xiàn)價(jià)：￥10.40元
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圖書簡介
《上海達(dá)標(biāo)卷》系列叢書特邀上海新教材實(shí)驗(yàn)區(qū)的部分專家和優(yōu)秀的一線老師，精心策劃，共同編寫，供學(xué)生學(xué)習(xí)教材時(shí)配套使用。
《上海達(dá)標(biāo)卷》的測評內(nèi)容涵蓋了教材的各個知識點(diǎn)，題型多樣，練習(xí)內(nèi)容強(qiáng)化基礎(chǔ)，突出能力，題型符合教學(xué)要求，使學(xué)生通過練習(xí)掌握和了解各個知識點(diǎn)以及相關(guān)內(nèi)容。
《上海達(dá)標(biāo)卷》的主要特點(diǎn)是：依據(jù)各學(xué)科的課程標(biāo)準(zhǔn)與最新教材，緊密結(jié)合，從教與學(xué)的實(shí)際出發(fā)，體現(xiàn)了從應(yīng)試教育向素質(zhì)教育的轉(zhuǎn)變。在內(nèi)容和體例編排上，注重強(qiáng)化基礎(chǔ)，提高學(xué)生能力。
同時(shí)能使教師迅速發(fā)現(xiàn)教學(xué)中的問題，幫助學(xué)生梳理已學(xué)知識，彌補(bǔ)學(xué)習(xí)中的缺漏。通過“提優(yōu)補(bǔ)差”，做到一般性問題及時(shí)修正，基礎(chǔ)知識牢固掌握，問題不成堆，能力步步高！
目錄
摸底測試A
摸底測試B
一、復(fù)習(xí)與提高（單元測試A卷）
一、復(fù)習(xí)與提高（單元測試B卷）
一、復(fù)習(xí)與提高（單元測試C卷）
一、復(fù)習(xí)與提高（單元測試D卷）
二、小數(shù)的認(rèn)識與加減法（單元測試A卷）
二、小數(shù)的認(rèn)識與加減法（單元測試B卷）
二、小數(shù)的認(rèn)識與加減法（單元測試C卷）
二、小數(shù)的認(rèn)識與加減法（單元測試D卷）
期中測試A
期中測試B
期中測試C
期中測試D
三、統(tǒng)計(jì)（單元測試A卷）
三、統(tǒng)計(jì)（單元測試B卷）
四、幾何小實(shí)踐（單元測試A卷）
四、幾何小實(shí)踐（單元測試B卷）
五、整理與提高（單元測試A卷）
五、整理與提高（單元測試B卷）
五、整理與提高（單元測試C卷）
五、整理與提高（單元測試D卷）
期終復(fù)習(xí)A
期終復(fù)習(xí)B
期終復(fù)習(xí)C
期終復(fù)習(xí)D
期終測試A
期終測試B
期終測試C
期終測試D
參考答案
